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蔡加法

蔡加法的头像

个人信息

职称
高级工程师
Email
jfcai@xmu.edu.cn
工作电话
2187765
办公室
物理馆317室
研究领域

半导体材料与器件的光电性质测试与研究;光电探测器的应用开发

个人简历
蔡加法,男,高级工程师。1973年出生于福建省,2004年毕业于厦门大学物理系(在职研究生),获理学硕士学位。现主要从事半导体材料和光电器件的光电性质研究工作,负责厦门大学物理系材料物理测试中心的仪器设备维护、管理工作。测试中心拥有FL-920瞬态荧光光谱仪、SP-750i光栅光谱仪、PN4300PC电化学电容测试仪、APD HC-4闭循环低温制冷系统、自制芯片级光电探测器电学特性(I-V)、光电响应特性测试系统等价值超过500万人民币的大型精密测试设备,可以进行材料的光学和电学性质的表征。测试中心可以提供光致发光(PL)谱、电致发光(EL)谱、I-V/C-V特性曲线、材料和器件光电响应谱、表面光伏(SPS)谱、电调制反射(ER)谱等多种测试手段,其中后二者为本中心独立建立起来的测试方法,具有测试灵敏度高、样品制备简单、不损害样品等特点。

 

发表文章
  1. 蔡加法,孔令民,吴正云,陈主荣,牛智川,自组织生长InAs量子点的发光性质研究,厦门大学学报(自然科学 版),Vol.42, No.6, 2003:732-735
  2. 蔡加法,陈主荣,吴正云,新的电调制反射谱技术及其应用,光电子·激光 ,Vol.16, No.8, 2005:969-972 
  3. 蔡加法,刘志鑫,陈主荣,吴正云,高灵敏表面光伏谱前置放大器的研制, 实验技术与管理,Vol.27, No.2, 2010: 47-49
  4. Ling Min Kong, Jia Fa Cai, Zheng Yun Wu, Zheng Gong, Zhi Chuan Niu, Zhe Chuan Feng,Time-resolved photoluminescence spectra of self-assembled InAs/GaAs quantum dots,Thin Solid Films 498(2006):188-192
  5.  Kong Lingmin,Cai Jiafa,Wu Zhengyun,Gong Zheng,Fang Zhidan,Niu Zhichuan Optical characteristics of InAs quantum dots on GaAs matrix by using various InGaAs structures,武汉大学学报(材料科学版)(英文)JOURNAL OF WUHAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY-MATERIALS SCIENCE EDITION,Vol.21, No.2, 2006:76-79
  6. S W Zeng, B P Zhang, J W Sun, J F Cai, C Chen, J Z Yu,Substantial photo-response of InGaN p-i-n homojunction solar cells, Semicond. Sci. Technol. 24 2009
  7. Huolin Huang, Yannan Xie, Wefeng Yang, Feng Zhang, Jiafa Cai, Zhengyun WuLow-dark-current TiO2 MSM photodetectors with Pt Schottky contacts,IEEE Electron Device Letters,Vol. 32, No.4,2011:530-532 

专利

     

    蔡加法,陈主荣,吴正云,表面光伏谱前置放大器,实用新型专利,授权号:ZL200620156385.1,授权日期:20071031

历史

注册了
5 年 44 周